仪器名称:高加速寿命和高加速应力筛选测试系统
仪器型号:TYPHOON-2.0
国别、厂家:美国
主要技术指标:高温+180℃,低温-90℃,温度变化速率50℃/min,加速度振动最高45G,XYZ三个方向六个维度,用于电子产品或电子元器件加速老化寿命测试。
主要功能及应用范围:该系统用于研究电子产品或电子元器件早期失效、偶然失效、环境失效、设计缺陷,主要用于航天、航空、军用电子产品整机的可靠性分析与研究,也可用于商业、民用普通电子元器件、电力电子功率半导体器件的可靠性分析与研究。
仪器安装地点:浙江大学玉泉校区电工厂1西三楼
仪器管理员:葛立坚