高加速寿命和高加速应力筛选测试系统
仪器名称：高加速寿命和高加速应力筛选测试系统
仪器型号：TYPHOON-2.0
国别、厂家：美国
主要技术指标：高温+180℃，低温-90℃，温度变化速率50℃/min，加速度振动最高45G，XYZ三个方向六个维度，用于电子产品或电子元器件加速老化寿命测试。
主要功能及应用范围：该系统用于研究电子产品或电子元器件早期失效、偶然失效、环境失效、设计缺陷，主要用于航天、航空、军用电子产品整机的可靠性分析与研究，也可用于商业、民用普通电子元器件、电力电子功率半导体器件的可靠性分析与研究。
仪器安装地点：浙江大学玉泉校区电工厂1西三楼
仪器管理员：葛立坚