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平台介绍

高加速寿命和高加速应力筛选测试系统

高加速寿命和高加速应力筛选测试系统
仪器名称:高加速寿命和高加速应力筛选测试系统

仪器型号:TYPHOON-2.0

国别、厂家:美国
 
主要技术指标:高温+180,低温-90,温度变化速率50/min,加速度振动最高45GXYZ三个方向六个维度,用于电子产品或电子元器件加速老化寿命测试。
 
主要功能及应用范围:该系统用于研究电子产品或电子元器件早期失效、偶然失效、环境失效、设计缺陷,主要用于航天、航空、军用电子产品整机的可靠性分析与研究,也可用于商业、民用普通电子元器件、电力电子功率半导体器件的可靠性分析与研究。
 
仪器安装地点:浙江大学玉泉校区电工厂1西三楼
 
仪器管理员:葛立坚
            ge8@zju.edu.cn